Использование микроскопа

С помощью микроскопа или лупы можно рассматривать лишь элементы шероховатости поверхности: выступы, впадины, их взаимное расположение.
Если направить пучок света под некоторым углом к контролируемой поверхности, т. е. дать боковое освещение, то на поверхности появятся тени и неровности становятся более рельефными.
Если полоска света будет достаточно узкой, то можно получить так называемое световое сечение (в плоскости Я2), которое позволяет получить границу тени, подобную профилю поверхности в секущей плоскости П1, размеры которой несколько увеличены в зависимости от угла (3 падения светового луча.
На этом принципе основано устройство двойного микроскопа типа МИС-11, предложенного академиком В. П. Линником.
Этот микроскоп имеет два тубуса — проекционный / и визуальный 2, оси которых взаимно перпендикулярны. Контролируемую поверхность детали или инструмента располагают на координатный столик и на нее при помощи проекционного тубуса через узкую щель направляют пучок лучей. Размеры неровностей на полученном изображении световой щели определяются с помощью окулярного микрометра путем последовательной установки горизонтальной линии перекрестия сначала к вершинам, а затем к впадинам неровностей.
Двойной микроскоп можно применять для измерения шероховатости в пределах от 3 до 9-го классов чистоты.